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仪器名称
X射线荧光光谱仪
英文名称
X-ray Fluorescence Spectrometer
产地
日本
仪器分类
专用
学科领域
材料科学 、化学工程
安放地址
北部湾大学(6-203)仪器分析实验室(1)
本仪器采用波长色散X射线荧光光谱分析法对固相粉末、冶金金属、有机组分、无机渣、液相组分等样品进行元素的定性分析、半定量分析、无标样分析,分析元素周期比F大的元素(C/H/O元素不好分析)。
1. 工作条件: 1.1 环境温度:15-28℃; 1.2 相对湿度:75%以内。 2. 主要技术规格 2.1 仪器主机系统 2.1.1元素分析元素范围 :O-U ,含量范围:ppm-100%。 分析样品范围:固体、粉末; ▲2.1.2 高频固态高压发生器 输出功率:≥4KW(可满功率运行)。能够根据元素的含量进行非等功率切换,电流、电压的调节由计算机控制。稳定度:对外电路波动1%时,稳定度为±0.0002%; 2.1.3 X-射线光管:满载功率:4KW 陶瓷复合材料Rh靶超尖锐X-射线管; ▲2.1.4 高强度超薄型铍窗:≤40µm; ▲2.1.5 具有测角仪和真空室的温度稳定控制系统,控温精度:温度变化≤±0.5℃。 2.2 进样系统 2.2.1 外部样品进样器:机械手自动抓卡自动进样器,配置直径样品盒10个以上; 2.2.2 样品室内机构:两位置样品装载交换,具有预抽真空室和分析室,具有样品自旋机构。

提供对固相粉末、冶金金属、有机组分、无机渣、液相组分等样品进行元素的定性分析、半定量分析、无标样分析,分析元素周期比F大的元素(C/H/O元素不好分析)。


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